一种多元密度矿物测试精准度评估及电子束参数优化方法及系统

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一种多元密度矿物测试精准度评估及电子束参数优化方法及系统
申请号:CN202411955021
申请日期:2024-12-27
公开号:CN120072093A
公开日期:2025-05-30
类型:发明专利
摘要
本发明属于但不限于矿物分析技术领域,公开了一种多元密度矿物测试精准度评估及电子束参数优化方法,首先在原料与样品制备环节,严格把控纯矿物纯度、密度范围及代表性,运用专业设备确保粉末状样品粒度均匀、质量比例精准,对树脂光片进行规范处理。接着选用具有高分辨率成像和元素分析功能的分析系统进行测试,并依据样品特性优化参数,准确记录测试数据。然后在结果分析阶段,计算不同测试条件下多元密度矿物的误差,根据误差分析结果与实际需求确定评估指标,综合判断系统准确性。通过建立数学模型,采用回归分析等方法拟合准确性与电子束扫描参数的函数关系,依据模型优化测试参数后再次测试评估,提升多元密度矿物测试的精准度。
技术关键词
参数优化方法 电子束 分析系统 精确数学模型 高分辨率成像 密度 信息数据处理终端 参数优化系统 测试样品 回归分析方法 粉末状样品 误差 判断系统 矿物分析技术 光片 矿物分析仪 研磨设备 高精度天平 计算机设备