偏移校准方法、OLDI接口的测试方法及装置

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偏移校准方法、OLDI接口的测试方法及装置
申请号:CN202411959167
申请日期:2024-12-30
公开号:CN119356965B
公开日期:2025-09-02
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种偏移校准方法、OLDI接口的测试方法及装置。涉及数据传输技术领域。具体实现方案为:将第一数据流先后输入控制芯片的第一寄存器和第二寄存器,得到第一寄存器或第二寄存器输出的目标处理信号;基于目标处理信号中的目标指令对第一数据流进行校准后输入至OLDI接口中对应的数据通道;其中,目标指令是根据第L轮数据传输结束后,显示器输出的包括校准信息的显示结果确定的。本公开实施例,通过对接口中的多个数据通道之间的偏移进行校准,能够有效消除因偏移出现的数据传输错误的情况,从而有助于提高数据传输的准确性。
技术关键词
偏移校准方法 控制芯片 接口 显示器 指令 测试方法 信号 数据传输技术 存储器 计算机程序产品 校准装置 处理器通信 测试模块 可读存储介质 电子设备