一种基于3D映射的LIBS异质样品检测分析系统及方法

AITNT-国内领先的一站式人工智能新闻资讯网站
# 热门搜索 #
一种基于3D映射的LIBS异质样品检测分析系统及方法
申请号:CN202411962840
申请日期:2024-12-30
公开号:CN119845928A
公开日期:2025-04-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于3D映射的LIBS异质样品检测分析系统及方法,所述系统包括用于提供LIBS所需载波的激光光谱发射装置,用于异质样品检测位置进行调整、对激光烧蚀位置进行准确定位的样品定位和烧蚀点控制调整装置;所述样品定位和烧蚀点控制调整装置包括用于对异质样品的表面进行扫描获取样品三维模型的3D扫描机构、用于接收激光光谱模块发射的激光并进行聚焦位置调整的电子可调透镜、用于配合电子可调透镜对样品表面烧蚀点进行调整的电子可调平台,将LIBS和空间映射相结合,利用电子可调平台和电子可调透镜实现不规则异质样品表面各个位置区域的准确检测分析,可以保证各位置激光聚焦的一致性,保证检测分析数据的准确性。
技术关键词
电子可调 检测分析系统 异质 光谱发射装置 扫描机构 检测分析方法 三维模型 延迟发生器 透镜 激光烧蚀 YAG激光器 光谱仪 平台 反射器 深度学习模型 集光 感兴趣 光谱分析
系统为您推荐了相关专利信息
超声导波 化工管道 缺陷检测方法 数学模型 数值仿真
特征联合学习 卷积特征 数显仪表读数 文本识别模型 模糊推理
决策支持系统 案例库 管汇 NoSQL数据库 多源异质数据
健康评估方法 耦合特征 特种车辆 输出特征 编码特征
电力巡检设备 测试优化方法 数字孪生模型 场景 异质