摘要
本发明公开了一种针对小型MCU芯片的自动化验证方法,包括如下步骤:S1、通过调用一个或多个DUAL_DUT,对MCU芯片的多个接口模块进行测试;S2、在normal_memory.rom文件中通过C语言编写主机程序和发送程序,再向DUT存储器中加载上述生成的normal_memory.rom文件;S3、根据主从功能和主机程序以及发送接收功能和发送程序,生成normal_memory.rom文件,并将normal_memory.rom文件载入每个DUAL_DUT存储器中,再通过tb_soc_top.v文件调用每个DUAL_DUT。本发明通过调用一个或多个DUAL_DUT,解决了小型MCU芯片由于PAD端口限制无法同时测试多个接口模块的问题,提高了小型MCU芯片的验证效率,缩短了芯片研发周期。