DRAM的刷新周期检测方法、装置、设备和计算机可读介质

本发明提供了一种DRAM的刷新周期检测方法、装置、设备、计算机可读介质和程序产品，该方法包括分配预设容量的缓冲区用于刷新周期检测；将测试数据遍历到缓冲区后，在初始刷新周期内持续读取数据；记录每次刷新周期以及检查读取的数据是否完整；响应于刷新周期与初始刷新周期的差值在预设阈值范围内，以及读取的数据完整，缩短所述初始刷新周期。该实施方式通过将上述刷新周期与初始刷新作差，判断差值是否在预设预制范围内，可以对实际的刷新周期进行检测，提高了该检测方法的可靠性。而判断读取的数据是完整的，则能够调整初始刷新周期继续进行检测，从而对设定匹配的刷新周期提供了依据。