采用大数据分析方式对芯片量产测试的垂直量化分析方法

本发明涉及电子测试技术领域，具体为采用大数据分析方式对芯片量产测试的垂直量化分析方法，包括以下步骤：收集芯片量产测试的时间和错误率数据，采用大数据分析方式，对数据进行排序和聚类分析，识别数据中的关键分布和异常点，得到时间分布分析结果。本发明中，通过大数据技术对时间和错误率数据进行分段和垂直量化分析，能够标记并迅速识别超出预设阈值的异常数据点，通过比较不同生产批次和工艺参数下的芯片性能，提高对生产过程中潜在问题的识别能力，通过量化评分和分析批次间的风险差异，进一步增强对风险的管理和应对能力，为优化芯片量产测试过程和参数设置提供有力支持，极大地提升测试效率。