基于卷积神经网络的点云分片下采样方法及系统

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基于卷积神经网络的点云分片下采样方法及系统
申请号:CN202411975752
申请日期:2024-12-30
公开号:CN119904352A
公开日期:2025-04-29
类型:发明专利
摘要
本公开提供一种基于卷积神经网络的点云分片下采样方法、系统、电子设备及存储介质,以解决采样算法切片内聚合度差,无法实现对整个点云完全覆盖导致采样后点云质量差的问题。所述方法包括:获取三维点云数据,设定划分的切片数,根据切片数初始化簇中心,将每个数据进行划分;重新计算新的簇中心,按照预设的标准对部分数据点进行重新划分;重复上述步骤,直到算法满足终止条件,得到待处理点云切片;将得到的待处理点云切片送入下采样网络,得到下采样后的点云切片;将下采样后的点云切片,拼接成完整的下采样点云。本公开可以生成更加逼真的下采样点云。
技术关键词
下采样方法 三维点云数据 分片 切片点云 网络 输出特征 无序点云 可读存储介质 算法 采样系统 处理器 拼接模块 矩阵 电子设备 采样模块 点分配 存储器