一种芯片测试分选装置

本实用新型属于芯片测试分选技术领域，尤其是一种芯片测试分选装置，针对现有的芯片测试分选装置自动化程度低，不方便对芯片快速分选，工作效率低的问题，现提出如下方案，其包括工作台，所述工作台的顶部设置有用于电器控制的控制器，所述工作台的底部设置有四个支撑腿；震动盘；所述震动盘用于对芯片进行震动传送且设置在工作台的顶部，所述工作台的顶部设置有用于对芯片传送的传送机构，所述工作台的顶部设置有直板，直板的顶部固定安装有顶板，顶板的底部设置有用于对芯片分选的电磁分选机构。本实用新型可以自动对芯片分选，利用脉冲控制电磁铁通电产生磁性，控制分选件对芯片推送分选，工作效率高。