集成电路气密性测试装置

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集成电路气密性测试装置
申请号:CN202421390656
申请日期:2024-06-18
公开号:CN222599083U
公开日期:2025-03-11
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型涉及集成电路气密性测试技术领域的集成电路气密性测试装置,包括底座,底座上固定连接有升降机构框架,所述升降机构框架上固定连接有直线导轨,所述直线导轨上滑动设有限位滑块,所述限位滑块固定连接有测试装置本体,所述测试装置本体的内部底端设置有吸嘴固定凹槽,所述测试装置本体的中部设置有压力传感器。本实用新型提出的集成电路气密性测试装置,允许使用通用的手动气密测试治具,配合万用吸嘴能够适应不同尺寸的产品进行测试,消除了为特定产品制作专用socket的需求,大幅节约了时间和成本,同时在测试能力上与原有的专用socket保持一致,确保了测试结果的准确性和可靠性,不仅提升了测试效率,还保证了测试的一致性和有效性。
技术关键词
气密性测试装置 集成电路 压力传感器 限位滑块 升降机构 直线导轨 气密性测试技术 升降装置 制作专用 框架 轴承 底座 有效性 凹槽 外用 齿轮 气管 芯片 尺寸