芯片测试用多工位切换机构

本实用新型公开了一种芯片测试用多工位切换机构，包括至少两个并排设置的活动工位结构，每个活动工位结构均包括电机丝杆组件、芯片放置组件、清洁组件、光源组件；芯片放置组件、清洁组件、光源组件均安装在电机丝杆组件的活动部上，清洁组件、光源组件置于同一排上，清洁组件、光源组件均置于芯片放置组件的后方。本申请中多个活动工位结构并排设置协同工作，当某个活动工位结构进行上料时候，另一些活动工位结构可以进行测试或清洁或检测；采用多工位进行上、下料、测试的切换，可上料和测试同步进行，大大节约了时间，提高了测试效率，并且具备测试位清洁功能，可提高测试的稳定性。