一种闪存测试方法、装置、电子设备及存储介质

本发明的实施例提供了一种闪存测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及闪存测试技术领域。将测试数据分成多个待测试数据块，依次将各待测试数据块写入擦除完成的待测试闪存，循环按照预设字线激活时间激活待测试闪存的字线，每次激活字线后读取待测试闪存的一个待测试数据块，并对读取的待测试数据块进行数据校验，以确认待测试闪存是否异常。通过分块进行激活待测试闪存的字线并对分块数据进行校验，从而可以将WL setup时间不够导致的异常芯片成功筛除。