元素定量分析方法、装置、电子设备及存储介质
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元素定量分析方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:
CN202510012387
申请日期:
2025-01-03
公开号:
CN119827536A
公开日期:
2025-04-15
类型:
发明专利
摘要
本发明公开了一种元素定量分析方法、装置、电子设备及存储介质。其中,该元素定量分析方法包括:获取射线透过待测样品和参比样品的光谱数据,待测样品包括至少一种待测元素,参比样品为基体组成与待测样品相同但不包含待测元素的样品;基于待测样品和参比样品的光谱数据,确定待测样品中每一种待测元素的吸收边处的透过率值,基于待测样品中每一种待测元素的吸收边处的透过率值,确定每一种待测元素在待测样品中的浓度值。
技术关键词
待测元素
元素定量分析方法
定量分析模型
数据
透射光
射线
电子设备
处理器
可读存储介质
基体
存储器
计算机
强度
模块
程序
指令