用于磁瓦表面精确缺陷检测的方法

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用于磁瓦表面精确缺陷检测的方法
申请号:CN202510029456
申请日期:2025-01-08
公开号:CN119832333A
公开日期:2025-04-15
类型:发明专利
摘要
本发明涉及人工智能技术应用领域,尤其涉及一种用于磁瓦表面精确缺陷检测的方法,所述方法包括以下步骤:获取磁瓦表面图像;将所述磁瓦表面图像输入自适应旋转注意力网络以进行精确缺陷检测,所述自适应旋转注意力网络包括自适应旋转卷积模块、旋转区域注意模块;通过所述自适应旋转注意力网络输出所述磁瓦表面图像对应的磁瓦表面精确缺陷检测结果。本发明提出的网络通过自适应旋转卷积模块、旋转区域注意模块分别对磁瓦表面的随机缺陷和小缺陷进行检测,从而提高网络整体对磁瓦表面缺陷检测的性能,提高磁瓦生产检测过程的工作效率。
技术关键词
磁瓦表面 卷积模块 多视角特征 图像 头部特征 网络模块 关键字 输出特征 表面缺陷检测 人工智能技术 注意力机制 条目 定义 参数