基于透射率校正的显微高光谱图像高空间分辨率重构方法
申请号:CN202510078620
申请日期:2025-01-17
公开号:CN120107076A
公开日期:2025-06-06
类型:发明专利
摘要
本发明涉及计算成像技术领域,尤其涉及一种基于透射率校正的显微高光谱图像高空间分辨率重构方法,通过在数据预处理阶段同时进行LR‑HSI、HR‑RGB数据透射率校正,可消除快照式微透镜阵列显微高光谱成像系统中分束器可能存在的分光不均匀问题,并通过真实数据对初始化模型进行微调,以提高最终图像重构模型对真实数据预测准确度。
技术关键词
透过率
重构方法
数据
重构模型
高光谱成像系统
深度学习模型
分辨率
图像
校正
无监督
透镜阵列
边缘检测算法
样本
快照
成像技术
分束器
因子
阶段