RAID功能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备

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RAID功能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备
申请号:CN202510082269
申请日期:2025-01-20
公开号:CN119964627B
公开日期:2025-11-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种RAID功能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备,根据RAID纠错能力的基础测试请求对SSD顺序写入测试数据,并从已写测试数据的逻辑地址中选择一目标逻辑地址,使用第一接口查询目标逻辑地址在闪存上的物理地址以及物理地址所在的RAID条带的纠错区域位置和纠错区域范围信息,根据纠错区域位置使用第一接口查询纠错区域的所有数据单元的第一状态,并根据纠错区域范围信息使用第二接口对纠错区域的至少一个数据单元注入UNC,从SSD中读取数据,并根据纠错区域位置使用第一接口查询纠错区域的所有数据单元的第二状态,根据顺序写入的测试数据、读取到的数据、第一状态和第二状态得到第一测试结果,从而提高了测试的精准性和效率。
技术关键词
纠错 RAID功能 测试接口 固态硬盘 测试方法 逻辑 RAID条带 执行垃圾回收 基础 功能测试装置 可读存储介质 数据查询模块 数据读取模块 电子设备 处理器 存储器 标识
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