芯片仿真软件中的几何特征提取方法、电子设备

本发明公开了一种芯片仿真软件中的几何特征提取方法、电子设备，该方法包括如下步骤：对获取的几何模型进行网格划分，生成若干网格单元；对每个网格单元进行几何特征识别，当识别到几何特征时，查询特征列表，判断该特征是否已经存在，如果不存在，则将该特征存储到特征列表，直至几何特征提取步骤结束，得到不重复几何特征列表；输出不重复几何特征列表，供芯片仿真软件使用。本发明解决了现有技术中存在的重复几何特征、识别不准确和计算资源消耗大的问题，通过该方法，可以有效提高芯片仿真软件的仿真效率和准确性，优化计算资源的使用，满足现代集成电路设计和验证的需求。