一种LPDDR芯片的WCK-ON值确定方法、系统、装置及存储介质

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一种LPDDR芯片的WCK-ON值确定方法、系统、装置及存储介质
申请号:CN202510102669
申请日期:2025-01-22
公开号:CN119541600B
公开日期:2025-06-10
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种LPDDR芯片的WCK‑ON值确定方法、系统、装置及存储介质,方法包括:获取LPDDR芯片的第一MR值;获取LPDDR芯片的第二MR值;将第一MR值和第二MR值分别与预设MR值进行比较得到第一比较结果;在第一比较结果表征第一MR值和/或第二MR值等于预设MR值、第二MR值更新的情况下,根据第一MR值和第二MR值确定第一CHS模式,根据第一CHS模式确定LPDDR芯片的第一WCK‑ON值;在第一比较结果表征第二MR值未更新的情况下,将第二MR值修正为第一MR值,根据第二MR值确定第二CHS模式,根据第二CHS模式确定LPDDR芯片的第二WCK‑ON值。能够同时兼容双Rank和单Rank的LPDDR芯片进行WCK‑ON值确定,测试成本低,减少方案切换问题导致的出错概率,提高WCK‑ON值确定的准确性。
技术关键词
LPDDR芯片 模式 存储器测试装置 处理器 数值 条目 程序 模块 可读存储介质 计算机