测试参数预加载方法、系统及预加载数据的修改方法

本申请涉及一种测试参数预加载方法、系统及预加载数据的修改方法，所述测试参数预加载方法包括：基于待执行的测试项，获取对应的多个测试参数集，所述测试参数集包括多个被测管脚和对应的测试参数；遍历各所述测试参数集，以所述测试参数集为单位并行发起多个预加载线程，所述预加载线程用于获取对应的测试参数集中各被测管脚在各所述测试通道上对应的通道参数和硬件内存地址；基于各所述预加载线程获取的所述硬件内存地址，将对应的通道参数写入所述测试通道对应的硬件内存，解决了芯片测试过程中的测试参数预加载效率低的问题。