三维扫描路径规划方法和三维扫描方法

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三维扫描路径规划方法和三维扫描方法
申请号:CN202510113860
申请日期:2025-01-24
公开号:CN120101689A
公开日期:2025-06-06
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种三维扫描路径规划方法和三维扫描方法,其中,该三维扫描路径规划方法包括:获取待测工件的初始工件模型;根据扫描设备的第一视场信息和跟踪设备的第二视场信息,确定初始工件模型对应的多个扫描区域;对各扫描区域进行扫描路径规划,得到待测工件的目标扫描路径。通过本申请,解决了三维扫描效率较低的问题,实现了自动规划扫描路径,提高三维扫描效率。
技术关键词
扫描路径规划方法 待测工件 三维扫描方法 跟踪设备 扫描设备 三维扫描系统 曲面 位姿控制装置 景深信息 可读存储介质 采样点 模块 视野 参数 计算机 处理器 对象
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