芯片老化系统及方法、芯片、终端设备

本申请提供了一种芯片老化系统及方法、芯片、终端设备，该芯片老化系统包括：中控控制器，用于根据输入的待测试芯片的类型确定供电信号的信息，并输出控制指令，控制指令包括供电信号的信息；老化插板，用于根据控制指令生成并输出供电信号。本申请技术方案提供了一种能够支持对多种芯片进行老化测试的芯片老化系统，提高了芯片老化测试的便捷性。