质量预测方法、装置、电子设备及存储介质
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质量预测方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:
CN202510139831
申请日期:
2025-02-08
公开号:
CN120218299A
公开日期:
2025-06-27
类型:
发明专利
摘要
本申请提供一种质量预测方法、装置、电子设备及存储介质,通过获取目标产品在制造过程中的每一工序的检测数据,根据检测数据,基于质量预测模型对目标产品的质量进行预测,实现了数据融合驱动的质量风险预测,从而得到包括制造过程中的每一工序对应的第一质量预测结果和目标产品的第二质量预测结果。这样实现了全局和局部两个层面的质量风险预测,既可基于第二质量预测结果支撑航天装备复杂制造过程全局的质量管理,亦可基于第一质量预测结果支撑每一工序的质量管理。
技术关键词
神经网络模型
关系
电子设备
数据
预测装置
计算机
处理器
节点
存储器
机制
风险
指令
航天
装备
模块
程序