一种基于晶圆图生成缺陷类别和缺陷描述的方法及装置

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一种基于晶圆图生成缺陷类别和缺陷描述的方法及装置
申请号:CN202510144104
申请日期:2025-02-10
公开号:CN119579610A
公开日期:2025-03-07
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于晶圆图生成缺陷类别和缺陷描述的方法及装置,方法包括:获取目标晶圆的缺陷视图、放大视图和顶视图;将所述缺陷视图、放大视图和顶视图分别输入到CLIP模型的图像编码器中,得到各自对应第一图像表征、第二图像表征和第三图像表征;将所述第一图像表征、第二图像表征和第三图像表征进行融合,得到融合图像表征;使用CLIP模型的文本编码器对预设的多个缺陷标签分别进行编码,得到多个标签文本表征;将所述融合图像表征与各个标签文本表征分别进行相似度比较,根据相似度比较结果确定所述目标晶圆的缺陷类别;将所述融合图像表征,输入到预训练的LSTM模型中,得到所述目标晶圆的第一缺陷描述。
技术关键词
标签文本 缺陷类别 文本编码器 样本 图像编码器 LSTM模型 大语言模型 多层感知机 计算机 可读存储介质 存储器 处理器 模板