芯片模组及其自测试方法以及激光雷达

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芯片模组及其自测试方法以及激光雷达
申请号:CN202510147543
申请日期:2025-02-11
公开号:CN119627612A
公开日期:2025-03-14
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种芯片模组及其自测试方法以及激光雷达,芯片模组包括系统级芯片与盖板,系统级芯片包括层叠设置的衬底层与器件层,器件层于背离衬底层的一侧具有第一表面,衬底层包括第二表面与侧面,第二表面为衬底层背离器件层的一侧的表面,第二表面设有散热槽,散热槽于第二表面延伸,并贯通侧面,盖板设于第二表面,并封堵散热槽于第二表面的开口,芯片模组还包括设于第一表面的发射芯片、第一接收芯片和第二接收芯片。本申请通过散热槽内的冷媒将热量于远离发射芯片、第一接收芯片和第二接收芯片的区域带出芯片模组,实现将发射芯片、第一接收芯片和第二接收芯片集成于同一系统级芯片,有效缩减激光雷达的体积。
技术关键词
芯片模组 系统级芯片 衬底层 激光雷达 数据 冷媒泵 测试方法 绝缘材料 结温 硅衬底 集成电路 二氧化硅 场景 传感器 散热器件