边缘Ai芯片多层存储单元垂直互联封装方法和装置

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边缘Ai芯片多层存储单元垂直互联封装方法和装置
申请号:CN202510162692
申请日期:2025-02-14
公开号:CN119630002B
公开日期:2025-05-09
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种用于边缘AI芯片多层存储单元的垂直互联封装方法及装置。方法包括以下步骤:首先,获取边缘AI芯片的多层存储单元的初始封装参数,确保所述封装参数包含与垂直互联相关的物理属性。随后,通过构建多层存储单元的垂直互联模型,结合每个存储单元的封装参数,生成各层之间的连接结构。接着,基于生成的连接结构,对存储单元间的导通结构进行分区划分,从而得到多个独立的传输通道。再采用自动布线算法对这些传输通道的信号布局进行优化,以确定信号在各路线中的布局方式,并依据该布局方式调整封装参数,最终完成边缘AI芯片多层存储单元的垂直互联封装。该发明不仅提高了封装精度,还有效增强了信号传输的稳定性和抗干扰性能。
技术关键词
多层存储单元 布局方式 存储结构 垂直通道 封装方法 边界特征 自动布线 参数 芯片 电磁干扰数据 坐标 分区 信号 算法 节点 传输路径