摘要
本公开提供了一种静默数据损坏的检测方法、装置、设备、介质及产品，涉及计算机技术领域，尤其涉及人工智能技术和芯片领域。具体实现方案为：在待检测的目标计算芯片上加载目标机器学习模型；将预设数据集输入至目标机器学习模型中执行计算，并在满足对目标计算芯片的存储压力测试条件时，结束计算流程；将计算过程中生成的模型计算数据与标准计算数据进行比对，并在比对结果不一致时，确定目标计算芯片存在数据存储层面的静默数据损坏。本公开实施例提供了一种在软件算法层面排查SDC的新方式，可以简单、便捷的实现对SDC的精准定位，提升SDC问题的检测效率和定位准确性。
