测试方法、测试系统及存储介质

AITNT-国内领先的一站式人工智能新闻资讯网站
# 热门搜索 #
测试方法、测试系统及存储介质
申请号:CN202510172780
申请日期:2025-02-17
公开号:CN119643955B
公开日期:2025-05-09
类型:发明专利
摘要
本发明涉及功耗测试技术领域,具体为一种测试方法、测试系统及存储介质。测试方法的步骤包括:获取智能锁在预设时间段内的操作日志;基于操作日志识别智能锁的工作状态序列;采集每种工作状态对应的实时功耗数据,自适应动态调整采样频率;利用机器学习算法建立智能锁工作状态与功耗的关联模型;基于关联模型计算智能锁在预设时间段内的总功耗;获取环境因素数据,修正计算得到总修正功耗。本发明通过自适应动态调整采样频率,能够更准确地捕捉智能锁在不同工作状态下的功耗变化。
技术关键词
测试方法 智能锁工作 工作状态参数 机器学习算法 时间段 剩余使用寿命 日志 功耗采集模块 频率 功耗测试技术 多元线性回归模型 保证数据精度 多层感知机 动态 网络连接状态 传播算法 序列