测试方法、测试系统及存储介质
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测试方法、测试系统及存储介质
申请号:
CN202510172780
申请日期:
2025-02-17
公开号:
CN119643955B
公开日期:
2025-05-09
类型:
发明专利
摘要
本发明涉及功耗测试技术领域,具体为一种测试方法、测试系统及存储介质。测试方法的步骤包括:获取智能锁在预设时间段内的操作日志;基于操作日志识别智能锁的工作状态序列;采集每种工作状态对应的实时功耗数据,自适应动态调整采样频率;利用机器学习算法建立智能锁工作状态与功耗的关联模型;基于关联模型计算智能锁在预设时间段内的总功耗;获取环境因素数据,修正计算得到总修正功耗。本发明通过自适应动态调整采样频率,能够更准确地捕捉智能锁在不同工作状态下的功耗变化。
技术关键词
测试方法
智能锁工作
工作状态参数
机器学习算法
时间段
剩余使用寿命
日志
功耗采集模块
频率
功耗测试技术
多元线性回归模型
保证数据精度
多层感知机
动态
网络连接状态
传播算法
序列