基于改进ω-k算法的合成孔径雷达大斜视成像方法

AITNT-国内领先的一站式人工智能新闻资讯网站
# 热门搜索 #
基于改进ω-k算法的合成孔径雷达大斜视成像方法
申请号:CN202510185063
申请日期:2025-02-19
公开号:CN120103334B
公开日期:2025-08-08
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种基于改进ω‑k算法的合成孔径雷达大斜视成像方法。本发明中,首先在大斜视SAR成像过程中,基于预设的斜视SAR观测几何模型以及雷达工作参数之间定量化的约束关系,以获取目标场景区域有效的原始回波数据。接着依次执行多普勒中心估计与补偿、一致压缩、补余压缩、方位向位置校正和距离向位置校正,其中一致压缩和补余压缩分别通过在二维频率参考函数相乘和Stolt插值实现,方位向位置校正在方位频域内实现,距离向位置校正通过重构距离向采样栅格实现。针对大斜视导致目标方位位置和距离位置产生的偏移,将校正过程嵌入到ω‑k算法的成像流程中,实现二维位置的校正,最终得以获取位置无偏移、高分辨率的SAR图像。
技术关键词
斜视成像方法 合成孔径雷达 位置校正 线性调频信号 二维快速傅里叶变换 波束 视角 多普勒 回波 采样率 天线 坐标 频率 校正模块 数据 算法 重构
系统为您推荐了相关专利信息
高价值特征 表达式 多智能体协同 可视化交互界面 图像检测方法
观测设备 测试结构 坐标 芯片 视野
合成孔径雷达数据 舰船检测技术 分支 资源受限设备 图像
缺陷检测方法 药板 包装缺陷检测系统 图像分割 编码
承载力评估方法 综合遥感影像 合成孔径雷达影像 生态恢复措施 生态健康