用于低应力电子封装体的具有低CTE和低杨氏模量的包封材料

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用于低应力电子封装体的具有低CTE和低杨氏模量的包封材料
申请号:CN202510187894
申请日期:2025-02-20
公开号:CN120527308A
公开日期:2025-08-22
类型:发明专利
摘要
一种用于电子封装体(110)的包封材料(100),其中,所述包封材料(100)包括电绝缘基质材料(102)以及所述基质材料(102)中的应力抑制填料颗粒(104),所述应力抑制填料颗粒(104)具有不大于6ppm/K的热膨胀系数值以及不大于4GPa的杨氏模量值。
技术关键词
包封 粘合促进剂 应力 电子封装体 氧化铜纳米颗粒 硼硅酸盐玻璃 多孔二氧化硅 双马来酰亚胺 功能性填料 多孔颗粒 半导体芯片 锂霞石 半导体材料 模制 载体 硅树脂