基于STM32芯片的微秒级多通道分离同步性测试装置及方法

本发明属于航空航天技术领域，尤其涉及一种基于STM32芯片的微秒级多通道分离同步性测试装置及方法，包括：STM32芯片，多个基于STM32芯片的分离监测通道，开关模块，通电控制接口，以及，通信芯片与通信接口，本发明所述的基于STM32芯片的微秒级多通道分离同步性测试装置及方法提高了测试装置的自动化程度和时间监测精度，能够实现实验的闭环控制，并且能够即时显示实验结果，以低成本的方式，实现了微秒级多通道分离同步性测试。