一种基于BIST的TSV测试诊断电路及方法

本发明属于超大规模集成电路可测性设计技术领域，公开了一种基于BIST的TSV测试诊断电路及方法，提供了一种用于TSV测试和诊断的硬件电路架构，包含测试访问端口控制器、测试数据寄存器、测试向量生成器、移位寄存器、双边沿触发器、TSV测试控制器和改进的加载芯片包装寄存器、捕获芯片包装寄存器，其中测试访问端口控制器负责配置测试路径、测试模式和测试使能信号，测试使能经双边沿触发器同步后激活TSV测试控制器，控制基于无损压缩结构改进的芯片包装寄存器执行测试，实现故障高效检测与不同故障类型的诊断。本发明通过测试向量生成与响应压缩协作，有效降低了测试时间，为高效、可靠的TSV测试与诊断提供了创新性解决方案。