自适应多参数特征融合电阻抗断层成像方法及相关设备
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自适应多参数特征融合电阻抗断层成像方法及相关设备
申请号:
CN202510236587
申请日期:
2025-02-28
公开号:
CN120167934A
公开日期:
2025-06-20
类型:
发明专利
摘要
本发明公开了一种自适应多参数特征融合电阻抗断层成像方法及相关设备,属于电阻抗断层成像技术(EIT)领域,通过构建有限元仿真模型获得EIT电压数据集,通过求解EIT图像重建逆问题模型获得EIT初始图像,再通过自适应多参数特征融合网络从不同正则化参数成像结果中自适应地提取与目标有关的特征信息,并抑制不相关信息的干扰,最终实现EIT图像稳定重建。
技术关键词
多参数特征融合
正则化参数
注意力
仿真模型
多尺度特征融合
网络
协方差矩阵
图像重建
特征提取模块
输出特征
成像
组合深度
电压