一种基于SystemVerilog的RFID标签芯片验证系统、设备及存储介质
申请号:CN202510249022
申请日期:2025-03-04
公开号:CN120337832A
公开日期:2025-07-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于SystemVerilog的RFID标签芯片验证系统、设备及存储介质。系统包括用例数据库、生成器模块、驱动器模块、输入监测模块、参考模型模块和结果比较模块;其中,用例数据库中存储多个测试用例;生成器模块用于根据测试用例生成激励序列;驱动器模块用于将激励序列转换为验证操作指令并发送至待测芯片和参考模型模块;输入监测模块用于捕捉待测芯片的实际输出响应;参考模型模块用于根据验证操作指令模拟待测芯片的理想输出响应;结果比较模块用于比较实际输出响应与理想输出响应,以得到待测芯片的验证结果。本发明所提供验证系统不仅保证了RFID标签芯片的功能正确性,还确保了其在实际应用中的可靠性,可以极大地提高验证效率和质量。
技术关键词
芯片验证系统
待测芯片
监测模块
标签
驱动器
序列
执行回归测试
性能测试用例
功能测试用例
变量
信号
代码覆盖率
输入输出接口
指令
时序
程序
数据