一种评估SOC中Flash可靠性的测试方法
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一种评估SOC中Flash可靠性的测试方法
申请号:
CN202510254272
申请日期:
2025-03-05
公开号:
CN120220781A
公开日期:
2025-06-27
类型:
发明专利
摘要
一种评估SOC中Flash可靠性的测试方法,涉及SOC存储器技术领域,包含以下步骤:将外部时钟接入SOC芯片,当作对Flash存储单元进行操作的同步时钟;设定操作时间的初始值;对Flash存储单元的至少一个块进行一次操作;读取数据;判断读取出的数据是否满足预设条件,若不满足,则调整操作时间重新进行一次操作,若满足,则获得本次测试的Flash块的边界时间。本发明通过动态调节擦、写、读时间参数,能精确测定Flash存储器的可靠性及擦、写、读的边界数据,实现对Flash存储器可靠性的精确评估。
技术关键词
测试方法
存储单元
SOC芯片
Flash存储器
存储器技术
时钟
数据
动态
参数