一种使用动态规划和Logistic拟合的线光谱轮廓拐点检测方法
申请号:CN202510256339
申请日期:2025-03-05
公开号:CN120144922A
公开日期:2025-06-13
类型:发明专利
摘要
本发明是一种使用动态规划和Logistic拟合的线光谱轮廓拐点检测方法,该方法使用动态规划和Logistic拟合实现线光谱的轮廓拐点检测,通过光谱共焦位移传感器进行数据采集并在数据清洗模块中进行数据清洗,在中点检测模块中进行突变点检测,使用动态规划的方法能够找到最佳突变点;在数据分割模块中,截取突变数据在突变点前后选取一定窗口的数据,在台阶拟合模块中使用Logistic函数进行拟合,在拐点筛选模块中通过Logistic函数的导数选取拐点。本发明能够有效解决线光谱或类似线轮廓传感器在测量物体高度差及测量明暗交替物体中的数据分割问题,使得不同高度物体区域能够有效分割,提升轮廓传感器的场景中数据分析效率。
技术关键词
拐点检测方法
Logistic函数
光谱轮廓
光谱共焦位移传感器
轮廓传感器
曲线
模块
定义
数据分析效率
动态规划方法
台阶特征
梯度下降算法
高斯核函数
迭代算法
离群点
物体