耦合粗糙度信息的微结构表面双波长数字全息检测方法

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耦合粗糙度信息的微结构表面双波长数字全息检测方法
申请号:CN202510265629
申请日期:2025-03-07
公开号:CN120194626A
公开日期:2025-06-24
类型:发明专利
摘要
本发明属于数字全息检测与仿生微结构检测技术领域,公开了耦合粗糙度信息的微结构表面多波长数字全息测量方法。该方法包括如下步骤:分别建立耦合粗糙度信息的三维模型和参考物模型,把耦合粗糙度信息的三维模型和参考物模型导入到ZEMAX软件中;在ZEMAX软件的非序列模式中建立数字全息仿真光路,把耦合粗糙度信息的三维模型和参考物模型分别设置到数字全息仿真光路进行光线追迹,通过改变光波长获取耦合粗糙度信息的三维模型和参考物模型的全息图;在MATLAB软件中建立双曝光双波长数字全息重建算法,分别读取耦合粗糙度信息的三维模型和参考物模型的全息图并重建,恢复粗糙度信息模型的三维形貌。
技术关键词
数字全息检测 微结构表面 三维模型 激光扩束器 全息重建算法 恢复粗糙度 全息图 平凹透镜 全息测量方法 探测器 仿生微结构 光波长 固体激光器 相机模型 凸透镜 仿真软件