箔材缺陷检测方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品

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箔材缺陷检测方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品
申请号:CN202510269821
申请日期:2025-03-07
公开号:CN120931549A
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种箔材缺陷检测方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品,应用于箔材检测技术领域。方法包括:响应于针对目标箔材的缺陷检测指令,获取目标箔材的目标图像;基于目标图像的图像灰度值,对目标图像进行阈值分割,得到目标图像的二值图像;对二值图像进行连通域提取,得到二值图像中的连通区域;在连通区域满足缺陷检测条件的情况下,对连通区域进行缺陷检测,得到目标箔材的缺陷检测结果。采用本方法能够确保箔材缺陷检测准确性。
技术关键词
图像灰度值 像素差异分析 缺陷检测方法 阴影校正 计算机设备 可读存储介质 缺陷检测装置 图像分割 图像获取模块 计算机程序产品 处理器 颜色 指令 存储器 滤波