一种基于OIP3测试的高频前端装置及测试方法

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一种基于OIP3测试的高频前端装置及测试方法
申请号:CN202510297809
申请日期:2025-03-13
公开号:CN120128279B
公开日期:2025-12-30
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种基于OIP3测试的高频前端装置及测试方法,其通过两路射频源分为高低输出两通道,在高输出通道中设置手动可调衰减来控制调配输出幅度,高低输出两通道都设置有隔离器,对泄漏信号进行抑制,两通道射频信号经过合路器合成一路信号输出,同时,合成一路的信号还通过耦合器输出耦合信号和输出信号,耦合信号用来实时监测输出信号大小幅度,输出信号最终经过程控衰减器,实现线性输出调制。本发明输出信号的大小幅度可灵活调节,并且支持实时监测,适应多种应用场景,满足不同功率需求,具备高动态范围,支持高精度、稳定的线性调制,确保在大功率信号下的可靠性。
技术关键词
E波段 程控衰减器 高功率 倍频器 测试方法 通道 可调衰减器 隔离器 合路器 时延 非线性 低功率 成分提取技术 启动锁相环 PID控制算法 线性调频信号 定向耦合器