一种液晶显示屏缺陷检测方法

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一种液晶显示屏缺陷检测方法
申请号:CN202510311205
申请日期:2025-03-17
公开号:CN119827522B
公开日期:2025-06-06
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种液晶显示屏缺陷检测方法,涉及液晶显示屏缺陷检测技术领域,本发明,采用双向偏振透射结构光源投射0°和90°偏振光,减少寄生反射对缺陷检测的干扰,引入自适应曝光控制单元,根据玻璃基板的透光率和反射特性实时调整曝光参数,优化成像质量,避免因过曝或欠曝影响检测效果;图像处理阶段,结合双帧相减的偏振差分算法提取寄生反射信息,并利用快速傅里叶变换FFT去除高频干扰,获得寄生反射抑制后的优化缺陷图像,使真实缺陷信息更加突出,提高缺陷对比度;采用多尺度高斯拟合滤波、梯度提升方法及超分辨率重建,增强图像中的缺陷特征,使低对比度缺陷区域更易于识别。
技术关键词
液晶显示屏缺陷检测 梯度提升方法 缺陷类别 图像 高频干扰 透射结构 动态门控 透光率 CMOS传感器 偏振光 Attention机制 光学成像系统 超分辨率 深度学习模型 差分算法 反射率 控制单元 矩阵 透明玻璃基板