一种基于深度图对比学习的scRNA-seq缺失数据预测方法

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一种基于深度图对比学习的scRNA-seq缺失数据预测方法
申请号:CN202510328873
申请日期:2025-03-19
公开号:CN120144927A
公开日期:2025-06-13
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种基于深度图对比学习的scRNA‑seq缺失数据预测方法,包括步骤:1.获取scRNA‑seq数据矩阵。2.预处理scRNA‑seq矩阵。3.使用预处理后的scRNA‑seq数据构建细胞图。4.将细胞图数据输入对比学习模块,学习并获取细胞的嵌入表示。5.基于细胞嵌入表示确定每个细胞的邻居细胞,并通过最小二乘法计算其与邻居细胞的相关权重,最终对每个细胞的缺失值进行填充。6.通过下游分析评估预测值的准确性。本发明能够很好地恢复缺失值,促进细胞亚群的聚类,并有助于细胞发育轨迹的推断。
技术关键词
缺失数据预测方法 深度图 矩阵 邻居 基因 K近邻算法 成分分析 轨迹 网络 模块 因子 偏差 节点