一种双模HDC芯片的HTOL测试系统及方法

本申请公开了一种双模HDC芯片的HTOL测试系统及方法，涉及半导体技术领域，测试系统包括PC机、主控单元、采样单元、通信单元、供电单元、高温箱和测试板；测试板设置于高温箱内，测试板用于连接至少一个被测芯片；采样单元、通信单元和供电单元分别与测试板连接；通信单元和供电单元还与主控单元连接；主控单元还与PC机连接。本申请可以通过PC机实时显示被测芯片的各项测试指标，能够全面地展示被测芯片的测试状态；本申请可以根据PC机显示的测试指标迅速定位问题，进而通过主控单元进行相应调整，提高了测试灵活性；本申请通过一个通信单元与被测芯片进行通信，降低了被测芯片之间的信号干扰，提高了测试的准确性。