基于点光谱共焦传感器的深盲孔曲线轮廓的测量方法

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基于点光谱共焦传感器的深盲孔曲线轮廓的测量方法
申请号:CN202510349582
申请日期:2025-03-24
公开号:CN119958458B
公开日期:2025-10-03
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于点光谱共焦传感器的深盲孔曲线轮廓的测量方法,属于光学传感器技术领域。测量方法包括:建立关于深盲孔的坐标系,并将深盲孔的设计轮廓导入到坐标系;结合坐标系和深盲孔的设计轮廓,形成轨迹线并确定轨迹线的坐标及起点间距;提供机床,机床的输出轴上设置有点光谱共焦传感器,并向机床输入坐标系和轨迹线,使得点光谱共焦传感器依次在相邻的两个轨迹点之间按照轨迹线对深盲孔曲线轮廓进行点扫描,并在三维模型中将扫描得到的点数据、起点间距及轨迹线构建曲线并旋转后得到深盲孔曲线轮廓。本发明实施例提供的一种基于点光谱共焦传感器的深盲孔曲线轮廓的测量方法,可以获得精准的深盲孔曲线轮廓。
技术关键词
光谱共焦传感器 曲线轮廓 测量方法 坐标系 轨迹线 深盲孔 直线段 光学传感器技术 机床 三维模型 间距 基准面 刀杆 支撑杆 数据