电路测试方法、平台、介质及终端
# 热门搜索 #
大模型
人工智能
openai
融资
chatGPT
AITNT公众号
AITNT APP
AITNT交流群
搜索
首页
AI资讯
AI技术研报
AI监管政策
AI产品测评
AI商业项目
AI产品热榜
AI专利库
寻求报道
电路测试方法、平台、介质及终端
申请号:
CN202510349616
申请日期:
2025-03-24
公开号:
CN120275802A
公开日期:
2025-07-08
类型:
发明专利
摘要
本公开提供电路测试方法、平台、介质及电子终端。所述电路测试方法包括:自动读取待测超导集成电路的焊盘信息;通过脚本生成器对所述焊盘信息进行处理,以自动生成测试脚本;调用计算引擎并且自动连接测试仪器;基于所述测试脚本和预设测试向量对所述待测超导集成电路进行多线程测试,以获取测试结果。通过自动读取焊盘信息、自动生成测试脚本以及对待测超导集成电路进行多线程测试,能够减少人工操作的需求,降低测试过程中的人为错误,从而提升测试流程的效率和准确性。
技术关键词
超导集成电路
电路测试方法
生成测试脚本
粒子群优化算法
多线程
测试仪器
电路测试平台
焊盘
电子终端
波形
矩阵
管理工具
生成随机
测试模块
处理器
启动器
可读存储介质
索引