一种存储芯片故障自检方法及系统

本发明提供一种存储芯片故障自检方法及系统，涉及数据处理技术领域，方法包括：获取存在缺陷的行单元数以及列单元数，并统计缺陷位置；启用备用行以及备用列对故障进行快速修复；判断是否修复完成；若是，结束自检；否则，进入下一步；利用卷积神经网络进行自检测，判断是否为典型故障；若是，进入下一步；按照故障修复库中存储的与典型故障对应的修复方式直接进行修复；判断是否修复完成；若是，结束自检；否则，进入下一步；利用遗传算法生成修复配置信息，并下载修复配置信息，对故障进行修复；判断是否修复完成；若是，结束自检；否则，对存储芯片进行报废处理。本发明在面对复杂或非典型的故障时拥有良好的识别能力，提升了自检准确性。