一种集成电路器件电场偏微分方程的求解系统、训练方法及求解方法
申请号:CN202510360868
申请日期:2025-03-26
公开号:CN119884568B
公开日期:2025-06-03
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种集成电路器件电场偏微分方程的求解系统、训练方法及求解方法,属于集成电路技术领域;在分别提取到集成电路器件的几何参数、电学参数和材料属性的全局特征后,通过融合模块构建几何‑电学‑材料三耦合机制对几何参数、电学参数和物理属性的全局特征进行融合,首先引入物理场一致性映射机制,将电学特征映射至与几何特征对齐的高维特征空间,确保两者在空间上的一致性和表达上的互补性,增强电学特征与几何特征的耦合能力,然后通过注意力机制,动态评估几何参数、电学参数和材料属性在不同电场区域的相互影响程度,动态实现三者特征的深度耦合,解决了集成电路器件电场求解中非线性复杂区域的表达问题,提高了求解的准确性。
技术关键词
求解系统
材料特征
注意力机制
掩码矩阵
前馈神经网络
嵌入特征
电场
特征提取器
特征提取模块
集成电路器件结构
融合特征
参数
编码特征
动态剪枝
副本
编码器
解码模块