一种混合集成电路智能检测方法及系统

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一种混合集成电路智能检测方法及系统
申请号:CN202510361928
申请日期:2025-03-26
公开号:CN119916183B
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
本发明涉及电路检测管理技术领域,尤其涉及一种混合集成电路智能检测方法及系统。所述方法包括以下步骤:通过在混合集成电路内对应不同端口以及关键部位处安装电参数测试仪、红外热像仪以及电磁兼容分析仪并进行检测前准备,以生成测试完备混合集成电路;根据预设的同步采集频率启动同步采集,以生成电学参数集、芯片工作温度分布以及电路运行电磁辐射频谱;根据电学参数集、芯片工作温度分布以及电路运行电磁辐射频谱进行故障检测,生成对应的故障检测结果;对相对应的混合集成电路进行故障推荐修复,生成混合集成电路对应的故障程度推荐修复方案,以执行相应的混合集成电路故障修复工作。本发明能够实时、准确地分析并反馈检测结果。
技术关键词
混合集成电路 故障检测 电路电磁干扰 电磁辐射干扰 电参数测试仪 智能检测方法 失效故障 红外热像仪 生成电路 电子元件 校准检测设备 分析仪 时序 数值 智能检测系统 芯片