基于视觉分析的反馈驱动芯片缺陷分类方法及系统

本发明公开了基于视觉分析的反馈驱动芯片缺陷分类方法及系统，涉及图像处理技术领域。包括建立数据库，收集历史缺陷图片，并根据缺陷的不同进行标签分类;获取待检测图片，转化为单通道检测像素图，并进行区域划分，计算易错区的区块常数；采用大小不同的区块，在正常区进行自适应直方图均衡化，在易错区根据区块常数，进行增强化直方图均衡化，获取检测图；根据相似度判断缺陷类型，进行缺陷分类。本发明对单通道检测像素图进行区域划分，采用大小不同的区块，在正常区进行自适应直方图均衡化，在易错区进行增强化直方图均衡化，获取检测图着重反映其内部较小的局部特征，提高检测效果并降低运算复杂程度，减小计算量。