3D堆叠芯片、金属互连结构制作方法及3D堆叠芯片

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3D堆叠芯片、金属互连结构制作方法及3D堆叠芯片
申请号:CN202510389732
申请日期:2025-03-31
公开号:CN120432390A
公开日期:2025-08-05
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种3D堆叠芯片的制作方法、3D堆叠芯片的金属互连结构制作方法,以及3D堆叠芯片,通过在bump层上镀上一层CoX合金层作为焊接强化层,有效增强多个芯片堆叠时的键合强度和可靠性。该金属互连结构制作方法包括:在芯片的正面和/或背面制备bump层;在所述bump层上制备一层CoX合金材料的焊接强化层,X为元素La、Ce中一种或多种的稀土元素。其中,3D堆叠芯片的制作方法包括:将多个正面和/或背面制备有bump层和焊接强化层的芯片位置相对地依次堆叠在一起,将相邻芯片的焊接强化层接触并焊接在一起。与现有技术相比,本发明通过在bump层上镀上一层CoX合金层作为焊接强化层,有效增强多个芯片堆叠时的键合强度和可靠性。
技术关键词
堆叠芯片 金属互连结构 导电金属层 合金材料 铜镍基合金 芯片堆叠 正面 元素 通孔 功率 电子束 应力 强度 压力