信号完整性测试方法、电子设备、存储介质及产品
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信号完整性测试方法、电子设备、存储介质及产品
申请号:
CN202510392620
申请日期:
2025-03-31
公开号:
CN119903799B
公开日期:
2025-07-25
类型:
发明专利
摘要
本申请公开了一种信号完整性测试方法、电子设备、存储介质及产品,涉及计算机辅助工程技术领域,包括获取电子设备中印刷电路板组件的功率密度分布信息;将功率密度分布信息输入到电子设备的散热模型中,获取电子设备在工作状态下印刷电路板组件的温度场数据;基于温度场数据,确定印刷电路板组件中材料参数,并基于材料参数,确定电子设备通过印刷电路板传输信号的质量数据,解决了温度场数据不准确导致信号完整性测试不准确的技术问题,达到了提高印刷电路板组件信号完整性测试精度的技术效果。
技术关键词
印刷电路板组件
电子设备
网格
信号完整性测试
仿真模型
计算机辅助工程技术
数据
功率值
参数
仿真器
流量特性曲线
叠层信息
损耗
可读存储介质
存储计算机程序
计算机程序产品