基于SAR成像算法的无损检测方法

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基于SAR成像算法的无损检测方法
申请号:CN202510395455
申请日期:2025-03-31
公开号:CN120163816A
公开日期:2025-06-17
类型:发明专利
摘要
本公开涉及基于SAR成像算法的无损检测方法,包括:后向散射数据的获取与预处理,得到初始测量的后向散射数据的表达;计算三维目标的反射率图像;在频域中采用多项式插值方法,得到插值函数;通过多项式插值修正相位,使得后向散射数据能够在频域中匹配;将频域中的数据转换回空间域,得到最终的三维反射率图像。本公开各实施例对初始测量的后向散射数据进行优化处理,从而更为快速地得到高质量的三维反射率图像。
技术关键词
反射率图像 SAR成像算法 无损检测方法 多项式 数据 插值方法 检测雷达 天线阵列 雷达天线 相位误差 滤波器 频率 速度