基于SAR成像算法的无损检测方法
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基于SAR成像算法的无损检测方法
申请号:
CN202510395455
申请日期:
2025-03-31
公开号:
CN120163816A
公开日期:
2025-06-17
类型:
发明专利
摘要
本公开涉及基于SAR成像算法的无损检测方法,包括:后向散射数据的获取与预处理,得到初始测量的后向散射数据的表达;计算三维目标的反射率图像;在频域中采用多项式插值方法,得到插值函数;通过多项式插值修正相位,使得后向散射数据能够在频域中匹配;将频域中的数据转换回空间域,得到最终的三维反射率图像。本公开各实施例对初始测量的后向散射数据进行优化处理,从而更为快速地得到高质量的三维反射率图像。
技术关键词
反射率图像
SAR成像算法
无损检测方法
多项式
数据
插值方法
检测雷达
天线阵列
雷达天线
相位误差
滤波器
频率
速度