摘要
本发明公开了一种半导体双工位测试分选机，通过在上下料分选装置的两侧设置两个测试装置，并分别配置第一芯片转移机械手，使得可由同一个上下料分选装置配合两个测试装置，实现了并行的双测试工位设计，能够同时进行测试，互不干涉，不仅显著提升了测试效率，能够在相同时间内完成更多芯片测试，缩短了整体测试周期，而且由于共用上下料分选装置，提高了设备利用率，降低了单位测试成本，可有效减少现场设备的占地面积。另外，即使其中一个测试装置出现故障，另一个仍可继续工作，保证了生产的连续性。总的来说，该测试分选机自动化程度高，减少了人工干预，降低了人力成本，还为后续生产规模扩大和技术升级提供了便利，具有显著的优势和效益。
